系统技术指标及性能
1)8英寸半自动毫米波射频探针台,宽大的测试空间,能对芯片、chip及器件进行测试;
2)系统可满足高达110GHz频率范围的双端口器件芯片测试要求,并能够实现与指定的扩频模块很好的搭载和测量;系统可测试67G以下双端口器件;可做四端口直流测试;
3)可以实现通过软件对晶片载台X, Y, Z, Theta 四个方向的移动全程控制。设备控制软件可以提供自动晶片水平校准,自动器件尺寸测量,自动移动误差补偿,远程控制等自动化功能;
4)载物台可被拉出工作台98%,便于放置被测件;且台面拉杆可在任意角度停留,方便扎针测试;
5)载物台X-Y方向:1µm (0.04 mils)分辨率、小于2µm 重复精度、大于50mm/sec的移动速度;Z方向:5mm的移动范围、1µm分辨率、小于1µm 重复精度;Theta方向:转动角度范围+/-5.5度;
6)平坦度误差优于30um;芯片载台带有两个独立的附加小载台,方便放置射频校准片;
7)ATT八英寸-60℃到+300℃温度控制器.
8)温度控制精确度:±0.1摄氏度;晶片载台温度均匀度小于1%;降温速度:-60℃到25℃≤7 min;25℃到300℃≤30 min;300℃到25℃≤18 min;25℃到-60℃≤18 min;
9)高稳定支架的显微镜结构,显微镜移动范围:2 英寸 X 2 英寸;放大倍率 50 倍到750 倍连续可变;机台控制器,Window 7/10操作系统,内置影像截取卡用于显示显微镜图像;
10)配置先进的微暗室技术,确保良好的测试环境
11)射频探针座采用高稳定机械固定方式,精度:手动; X、Y、Z轴定位精度2um, X、Y轴移动范围:12cm x 12cm;
12)配套LRRM校准模式的自动射频校准软件;
13)配套供放置探针台使用的重型防震平台及真空泵等设备,系统运行稳定;
型号 | 名称 | 功能 |
Summit 12000 | 200mm 半自动探测台 | 8英寸半自动毫米波射频探针台 载物台X-Y方向:1µm (0.04 mils)分辨率、小于2µm 重复精度、大于50mm/sec的移动速度;Z方向:5mm的移动范围、1µm 分辨率、小于1µm 重复精度;Theta方向:转动角度范围+/-5.5度 平坦度误差优于30um;芯片载台带有两个独立的附加小载台,方便放置射频校准片; 配置先进的微暗室技术,确保良好的测试环境,拥有最低20dB 0.5-3 GHz、小于-170 dBVrms/rtHz(≤50KHz)、小于5mVp-p (≤ 1GHz)的系统AC噪声、光强衰减大于120dB 具有NRTL,CE, Semi S2等认证 |
TS-412-14P | ATT高低温控制系统 | 温度控制精确度:±0.1摄氏度;晶片载台温度均匀度小于1%;升降温速度:-60℃到25℃≤7 min;25℃到300℃≤30 min;300℃到25℃≤18 min;25℃到-60℃≤18 min |
SP-Inf | 直流至110G探针模组 | 系统可满足高达110GHz频率范围的双端口器件和四端口差分器件芯片测试要求,并能够实现与指定的扩频模块很好的搭载和测量;可做四端口直流测试 |
Velox | 探针台控制软件 | 实现通过软件对晶片载台X, Y, Z, Theta 四个方向的移动全程控制。设备控制软件可以提供自动晶片水平校准,自动器件尺寸测量,自动移动误差补偿,远程控制等自动化功能 |
eVue III | 显微镜 | 高稳定支架的显微镜结构,显微镜移动范围:2 英寸 X 2 英寸;放大倍率 50 倍到1000 倍连续可变;机台控制器,Window 7操作系统,内置影像截取卡用于显示显微镜图像 |